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    瞬態光電流/光電壓測試系統

    描述:瞬態光電流/光電壓測試系統(載流子遷移率測量系統,瞬態光電流/光電壓測量系統、瞬態光電性能測量系統),發光器件發光光譜分析系統以及相關器件的軟件模擬研發系統,對于光電器件微觀機理研究提供了有效的測試工具.

    更新時間:2024-07-04
    產品型號:
    廠商性質:代理商
    詳情介紹
    品牌其他品牌價格區間面議
    測量模式交流產地類別進口
    應用領域醫療衛生,環保,生物產業,農林牧漁,能源

    瞬態光電流/光電壓測試系統(載流子遷移率測量系統,瞬態光電流/光電壓測量系統、瞬態光電性能測量系統),發光器件發光光譜分析系統以及相關器件的軟件模擬研發系統,對于光電器件微觀機理研究提供了有效的測試工具;多功能一體化瞬態測試平臺,不但可以測量器件的載流子遷移率、載流子壽命、載流子動力學過程、阻抗譜等,還可以對瞬態光電流譜TPC,瞬態光電壓譜TPV、調制光電流譜IMPS、瞬態光電壓譜IMVS等進行測量分析,分析器件中的載流子特性和瞬態過程。


    瞬態光電流/光電壓測試系統

    主要應用:
        * 無機半導體光電器件,有機半導體光電器件;
        * 有機太陽能電池OPV;
        * 鈣鈦礦太陽能電池Perovskite Solar Cell,鈣鈦礦LED;
        * 無機太陽能電池(例如:單晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太陽能電池);
        * 染料敏化太陽能電池DSSC;


    主要測量功能:
        * 功率點MPP、FF、Voc、Isc、VS 光強,遷移率(I-V測試 & I-V-L測試,空間電荷限制電流SCLC法)
        * 載流子密度,載流子動力學過程(瞬態光電流法 TPC)
        * 載流子壽命,載流子符合動力學過程(瞬態光電壓/瞬態開路電壓法 TPV)
        * 載流子遷移率(暗注入瞬態法 DIT,單載流子器件&OLED)
        * 串聯電阻,幾何電容,RC時間(電壓脈沖法 Pulse Voltage)
        * 參雜密度,電容率,串聯電阻,載流子遷移率(暗態線性增加載流子瞬態法 Dark-CELIV)
        * 載流子遷移率,載流子密度(光照線性增加載流子瞬態法 Photo-CELIV)
        * 載流子復合過程,朗之萬函數復合前因子(時間延遲線性增加載流子瞬態法 Delaytime-CELIV)
        * 不同工作點的載流子強度,載流子遷移率(注入線性增加載流子瞬態法 Injection-CELIV)
        * 幾何電容,電容率(MIS線性增加載流子瞬態法 MIS-CELIV)
        * 陷阱強弱度,等效電路(阻抗譜測試 IS)
        * 遷移率,陷阱強弱度,電容,串聯電阻(電容VS頻率 C-f)
        * 內建電壓,參雜濃度,注入勢壘,幾何電容(電容VS電壓 C-V)
        * 點亮電壓(電流電壓照度特性 I-V-L)
        * 發光壽命,載流子遷移率(瞬態電致發光法 TEL)
        * 載流子遷移率(TEL瞬態電致發光,Photo-CELIV線性增壓抽取載流子)
        * OLED/鈣鈦礦LED發光特性測量(發光器件測量);  


    測量技術:
    1)IV/IVL特性:通過曲線可以得到樣品的電流電壓特性關系、電流電壓與光強的特性關系;
    *對于有機半導體材料可通過空間電荷限制電流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和遷移率等;|
    2)瞬態光電流響應法(Transient Photocurrent ):研究載流子動力學過程和載流子密度等;
    3)瞬態光電壓(Transient Photovoltage):研究載流子壽命和復合過程;
    4) 雙脈沖瞬態光電流(Double Transient Photocurrent):分析電荷載流子俘獲動態過程;
    5) 暗注入瞬態法(Dark Injection):對于單載流子器件和OLED,研究其載流子遷移率;
    6) 電壓脈沖法(Voltage Pulse):串聯電阻、幾何電容和RC效應分析;
    7) 暗態線性增壓載流子瞬態法(Dark-CELIV):參雜濃度、相對介電常數、串聯電阻、電荷載流子遷移率測量;
    8) 光照線性增壓載流子瞬態法(Photo-CELIV):提取有機太陽能電池片內載流子遷移率mobility ,以及載流子濃度分析等;
    9) 時間延遲線性增壓載流子瞬態法(Delaytime-CELIV):復合動態過程分析和郎之萬復合因子分析等;
    10)注入線性增壓載流子瞬態法(Injection-CELIV):電荷載流子濃度和電荷載流子遷移率測量分析;
    11)MIS-CELIV:幾何電容和相對介電常數分析;
    12)阻抗譜測量(Impedance Spectroscopy):器件等效電路分析等;
    13)電容頻率測量法(C-f): 遷移率、陷阱、幾何電容和串聯電阻測量;
    14)電容電壓測量法(C-V):內建電壓、參雜濃度和幾何電容等測量;
    15)瞬態電致發光測試(Transient Electroluminescence):抽取OLED器件的載流子,磷光壽命測量;


    太陽能電池和OLED測試示意圖

    瞬態光電流/光電壓測試系統


    測量功能

    瞬態光電流/光電壓測試系統



    瞬態光電流/光電壓測試系統


    技術規格

      • 采樣率:60MS/s

      • 時間分辨率:16ns

      • 頻率范圍:10mHz to 10MHz

      • 電流分辨率:<100pA

      • LED上升時間:100ns

      • 電流范圍:100mA

      • 電壓范圍:±12V


    可選功能

      • Solar Cell Version or/and OLED Version

      • Multi-LED模塊:360nm~1100nm for EQE

      • 變溫測試臺:-120 °C to 150 °C(多種可選)

      • 光譜儀:OLED器件發光光譜測量

      • SMU擴展模塊: 電壓±60V,電流分辨1pA


    應用領域

      • 鈣鈦礦太陽能電池PSCs

      • 有機、量子點太陽能電池

      • 染料敏化電池DSSC

      • 疊層太陽能電池

      • CIGS, CdTe, CZTS太陽能電池

      • 鈣鈦礦和量子點LED器件

      • 有機發光器件OLED

      • MIS器件和LECs



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